С 10 по 16 сентября 2023 г. в городе Сочи (Адлер) прошла международная научно-техническая конференция «Автоматизация», в которой принял участие студент МИЭМ НИУ ВШЭ. Организатором конференции является Южно-Уральская группа IEEE (сайт: https://su-ieee.ru/). Конференция посвящена обсуждению современных достижений в области автоматизации технологических процессов и управления в технических системах.
Целью конференции является способствование информированию ученых и практиков о наиболее перспективных направлениях исследований и достижениях в области автоматизации технологических процессов и управления в технических системах.
Значимость конференции для МИЭМ НИУ ВШЭ заключается в обмене опытом, поддержке дискуссии и публикации результатов научно-исследовательских работ.
Количество участников
Страны, принимающие участие
Регулярность конференции
Год проведения первой конференции
250
Россия, Великобритания, Вьетнам, Казахстан, Кыргызстан, Сирия, Узбекистан
Ежегодно
2018
МИЭМ НИУ ВШЭ был представлен работой «The Research of Reliability Measures of Thin Film Resistors on an Extended Temperature Range of Operation», авторами которой являются Королев П.С., Полесский С.Н., Цветков В.Э. Доклад был заслушан в секции «Математическое моделирование технологических процессов и технических систем». В работе была предложена уточненная математическая модель показателей безотказности тонкопленочных резисторов на диапазоне температур окружающей среды от –55 °С до +125 °С при эксплуатации радиоэлектронных средств.
Материалы конференции будут опубликованы на английском языке в виде полных статей в издании, индексируемом наукометрической базой Scopus.
Целью конференции является способствование информированию ученых и практиков о наиболее перспективных направлениях исследований и достижениях в области автоматизации технологических процессов и управления в технических системах.
Значимость конференции для МИЭМ НИУ ВШЭ заключается в обмене опытом, поддержке дискуссии и публикации результатов научно-исследовательских работ.
Количество участников
Страны, принимающие участие
Регулярность конференции
Год проведения первой конференции
250
Россия, Великобритания, Вьетнам, Казахстан, Кыргызстан, Сирия, Узбекистан
Ежегодно
2018
МИЭМ НИУ ВШЭ был представлен работой «The Research of Reliability Measures of Thin Film Resistors on an Extended Temperature Range of Operation», авторами которой являются Королев П.С., Полесский С.Н., Цветков В.Э. Доклад был заслушан в секции «Математическое моделирование технологических процессов и технических систем». В работе была предложена уточненная математическая модель показателей безотказности тонкопленочных резисторов на диапазоне температур окружающей среды от –55 °С до +125 °С при эксплуатации радиоэлектронных средств.
Материалы конференции будут опубликованы на английском языке в виде полных статей в издании, индексируемом наукометрической базой Scopus.